TR110 / Surtronic Duo piëzo-elektrische sensor ruwheidsmeters
TR110 / Surtronic Duo piëzo-elektrische sensor ruwheidsmeters
AMETEK BROOKFIELD
ASCOTT ANALYTICAL EQUIPMENT LTD
ATP ENGINEERING BV
BINDER GmbH
BUCKLEYS (UVRAL) LTD
COATMASTER
DAKOTA ULTRASONICS
DEFELSKO CORPORATION
HACH LANGE
HANGON
HANNA INSTRUMENTS FRANCE
HILDEBRAND
KERN & SOHN GmbH
LABOMAT ESSOR
LAUDA
LENETA COMPANY
MITUTOYO FRANCE
Q-LAB CORPORATION
RHOPOINT INSTRUMENTS
RK PRINT COAT INSTRUMENTS Ltd
SIGMUND LINDNER GmbH
TABER INDUSTRIES
TAYLOR HOBSON LIMITED
TESTO
TQC BV
VEOLIA WATER STI
VERIVIDE
WALLACE
X-RITE EUROPE GMBH
Een punt beweegt over een gedefinieerde lengte over het te meten oppervlak en meet de verplaatsing van de sensor als functie van oppervlakteonregelmatigheden.

Het ruwheidsprofiel komt overeen met het primaire profiel gecorrigeerd voor rimpeleffecten
Tijdens een test definiëren we een verplaatsingslengte voor en na de evaluatie (pre-travel en post-travel)
Een evaluatielengte genaamd cutoff
en een aantal herhalingen van de evaluatie
Voor kleine onderdelen:
verplichte informatie
Complementair
(JIS1994, JIS2001, ISO1997, ANSI, VDA ...)
Ra is het rekenkundig gemiddelde van de absolute waarden van de afwijkingen van het evaluatieprofiel (Yi) van de gemiddelde lijn.
Voor ANSI wordt Ra gedefinieerd over de gehele evaluatieduur
(JIS2001, ISO1997, ANSI, VDA ...)
Rq is de vierkantswortel van het rekenkundig gemiddelde van de kwadraten van de afwijkingen (Yi) van de gemiddelde lijn bij het evaluatieprofiel.
Voor ANSI wordt Rq gedefinieerd over de gehele evaluatielengte
Rz (JIS2001, ISO1997, ANSI, VDA), Rmax (JIS1982), Ry (JIS1994)
Verdeel het beoordelingsprofiel in componenten op basis van de steekproeflengte. Bereken vervolgens voor elke component de som (Zi) van het hoogste punt van de gemiddelde lijn (Pi) en het laagste punt van de gemiddelde lijn (Vi). Het gemiddelde van deze bedragen is Rz, Rmax (voor JIS1982) of Ry (voor JIS1994).
Hoekpunten / pieken en dalen / bodems van het beoordelingsprofiel Wanneer het beoordelingsprofiel een gemiddelde lijn bevat, worden de delen van het profiel die boven de gemiddelde lijn uitsteken 'pieken' genoemd, en de delen van het profiel die project onder de middelste lijn worden "valleien" genoemd. Het hoogste punt van elk hoekpunt wordt de "piek" genoemd en het laagste punt van elk wordt de "onderkant" genoemd.
(JIS2001, ISO1997, ANSI, VDA, gratis), Rpm (ANSI)
Verdeel het beoordelingsprofiel in componenten op basis van de steekproeflengte. Bepaal vervolgens voor elk onderdeel de afstand van het hoogste punt (Rpi) tot de gemiddelde lijn. Rp is het gemiddelde van de Rpi-waarden die zijn verkregen uit de componenten.
Rp (ANSI) wordt gedefinieerd als de maximale piekhoogte over de evaluatielengte.
(JIS2001, ISO1997, ANSI, VDA, gratis)
Verdeel het beoordelingsprofiel in componenten op basis van de steekproeflengte. Bereken vervolgens voor elke component de afstand vanaf het laagste punt (Rvi) van de gemiddelde lijn. Rv is het gemiddelde van de Rvi-waarden die zijn verkregen uit de componenten.
Rv (ANSI) wordt gedefinieerd als de maximale bodemdiepte over de evaluatielengte.
(JIS2001, ISO1997, ANSI, VDA, gratis)
Rt is de som van de afstand van de gemiddelde lijn tot de hoogste piek en de afstand van de gemiddelde lijn tot de diepste bodem, voor de gehele evaluatielengte
Voor meer informatie, aarzel niet om de documenten bij dit artikel te raadplegen of neem contact op met Labomat Essor
TR110 / Surtronic Duo piëzo-elektrische sensor ruwheidsmeters
Kan ik metingen tussen twee verschillende viscosimeters vergelijken?
Casestudy: reologische eigenschappen van zuiveringszout
Wat is het verschil tussen smalband- en breedbandbestralingscontrole?
Hoe spiraalstaven reinigen (Bar coaters, Meyer-staven)?
Casestudy: Meting van de consistentie van tandpasta
Casestudy: Reologische eigenschappen van maïszetmeel
Glansmeter: welk product is geschikt voor mijn toepassing?
Hoe vaak moet ik mijn meetinstrument laten kalibreren?
Hoe ruwheid meten?
Meting met een ruwheidsmeter