Novo Gloss Trigloss 20 60 85 ° glansmeter met gelijktijdige Haze-meting

De Novo-Gloss 20/60/85° glansmeter met gelijktijdige Haze-meting is ontworpen om te voldoen aan de meetcriteria van de meeste glansmeettoepassingen.

De glansmeter is klein, lichtgewicht en duurzaam en kan worden gebruikt in productie- en laboratoriumomgevingen. Hoge specificaties, waaronder statistische analyse, grafische analyse en softwareloze downloadfunctie naar pc, maken het de ideale glansmeter voor matte tot spiegelende oppervlakteafwerkingen

Gemeten parameters:

Glansmeting voor alle oppervlakteafwerkingen:

• 20⁰ - Hoogglans
• 60⁰ - Gemiddelde glans
• 85⁰ - Lage glans

Waasmeting volgens ASTM E430

Kenmerken van de glansmeter

• Snelle meting, één druk op de knop meet alle parameters
• Statistieken aan boord met grafische analyse van trends en rapporten.
• Automatische kalibratie met tegelvalidatie
• Resultaten met tijdstempel
• Eenvoudig batchen - Door de gebruiker te definiëren batchnamen en batchgroottes voor snellere en efficiëntere rapportage
• Gegevensoverdracht zonder software
• Directe gegevensinvoer via Bluetooth - stuur meetwaarden direct rechtstreeks naar programma's zoals Microsoft Excel
• Automatisch bereik, meet matte spiegelafwerkingen
• Pass/fail voor gemakkelijke identificatie van non-conformiteiten
• Compatibel met alle belangrijke internationale normen
• Twee jaar verlengde garantie
• Levenslang gegarandeerde lichtbron

Welke meethoek moet ik gebruiken voor mijn toepassing?

ISO 2813 en ASTM D523 beschrijven drie hoeken voor het meten van glans met een glansmeter.

Glans wordt gemeten in glanseenheden (GU) en is te herleiden tot referentiestandaarden van NIST.

Universele meethoek: 60 °

Alle glansgraden kunnen worden gemeten met de standaard 60° meethoek. Het wordt gebruikt als referentiehoek met de complementaire hoeken van 85° en 20° die vaak respectievelijk worden gebruikt voor lage en hoge glansniveaus.

Hoogglans: 20 °

De scherpe meethoek van 20° verbetert de resolutie van hoogglanzende oppervlakken. Oppervlakken die 70GU en meer meten bij de standaard 60° hoek worden vaak gemeten met deze geometrie.

De hoek van 20° is gevoeliger voor waaseffecten die het uiterlijk van een oppervlak beïnvloeden.

Lage glans: 85 °

Voor een verbeterde lage glansresolutie wordt een scheerhoek van 85° gebruikt om het gebied te meten. Deze hoek wordt aanbevolen voor oppervlakken van minder dan 10 GU gemeten bij 60º.

Deze hoek heeft ook een groter meetpunt dat de verschillen in glans van gestructureerde of licht oneffen oppervlakken zal gemiddeld.

Waarom Haze meten?

Haze kan het best worden omschreven als een bijna spiegelende reflectie. Dit effect wordt veroorzaakt door een microscopisch kleine oppervlaktestructuur die de richting van het gereflecteerde licht enigszins verandert, waardoor er uitbloeiingen ontstaan naast de spiegelhoek (glans). Het oppervlak heeft een minder reflecterend contrast en een oppervlakkig melkachtig effect. In de coatingindustrie is deze microscopisch kleine oppervlaktetextuur vaak te wijten aan slecht verspreide grondstoffen, onverenigbare grondstoffen of oxidatie en verwering.

Voor gepolijste metalen oppervlakken wordt waas vaak geassocieerd met polijstsporen of chemische resten.

Lage waas	Hoge waas

Snelle meting van alle parameters. Uitgebreide geïntegreerde statistieken met grafische trendanalyse en rapporten.

Gelijktijdige meting van alle parameters, de resultaten worden voorzien van een tijdstempel.

Grafische rapporten voor snelle trendanalyse.

Geeft volledige statistieken weer voor het aantal metingen in de huidige batch.

Goed: slechte parameters kunnen worden ingesteld voor onmiddellijke identificatie van afwijkingen.

Eenvoudig batchen

Door de gebruiker te definiëren batchnamen en batchgroottes voor snellere en efficiëntere rapportage.

Demonstratievideo: